FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量， 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重， 还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及XDLM@—C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样可以测量。它还采用*的焦距距离计算办法（DCM），操作员现在可以随时改变焦距测量，对一些形状复杂的工件尤其方便。FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括：特大及槽口式的测量箱、向下投射式X—射线，方便对位测量、软件在视窗98下操作、可在同一屏幕清楚显示测量读数及工件的位置。
Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的设计是专门测量金属镀层厚度的仪器，它是采用WinFTMV．3的软件，计算方面用了新的FP（FUrldamental Parameter）、DCM（Distance Con“olled Measurement）及强大的电脑功能， X—RAY XDL —B及XDLM —C4已经可以在不使用标准片调校仪器之下，一样可以进行测量。应用方面:罩性金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au； Sn等合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（无电浸镍）在Fe上等合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，例交口： AuCuCd在Ni上等双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等三镀层，例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上金属成份分析，多可以分析四种金属元素规格:主机——高650mmx阔570mmx深740mrn；重55kg测量箱一高300mmx阔460mmx深500mmXDL@—B：圆形准值器一中0．3mmXDLM@—C4：4倜准值器一中0．1 mm；中O，2mm；中0．3mm及0．05X0．3mmX一射线向下投射主机上有直接测量键可调校X一射线管高压： 30kV，40kV或50kV彩色显示测量位置，焦距距离计算办法（DCM）大焦距调节为80mm外置式电脑（Pentium或同级）及VGA彩色屏幕可选配自动或手动的测量台
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第14年
